Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / cosponsor Sira Ltd.--The research association for instrumentation ; Lionel R. Baker, Harold E. Bennett, chairmen/editors. (Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineers ; v. 525)

Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / cosponsor Sira Ltd.--The research association for instrumentation ; Lionel R. Baker, Harold E. Bennett, chairmen/editors.

(Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineers ; v. 525)

国立国会図書館請求記号: M15-A1722
国立国会図書館書誌ID: 000003127562

資料種別: 図書

著者: Baker, L. R. (Lionel R.)ほか

出版者: SPIE--the International Society for Optical Engineering

出版年: c1985.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: vi, 198 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0892525606 (pbk.)
タイトル: Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / cosponsor Sira Ltd.--The research association for instrumentation ; Lionel R. Baker, Harold E. Bennett, chairmen/editors.
シリーズタイトル: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineers ; v. 525
著者標目: Baker, L. R. (Lionel R.)
Bennett, Harold Earl, 1929-
Sira Limited.
出版事項: Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版年月日等: c1985.
出版年（W3CDTF）: 1985
数量: vi, 198 p. : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Lenses -- Defects -- Congresses.
LCC: TS517.3
DDC: 681/.423
NDLC: M15
MC
書誌注記: Includes bibliographies and index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M15-A1722
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003127562
http://id.ndl.go.jp/bib/000003127562
LC control number: 85050425
https://lccn.loc.gov/85050425
整理区分コード: 211