Defects in SiO2 and related dielectrics : science and technology : Advanced study institute : Apr 2000, Erice, Italy. (NATO Science Series Sub-Series 2 Mathematics, Physics and Chemistry ; 2)

Defects in SiO2 and related dielectrics : science and technology : Advanced study institute : Apr 2000, Erice, Italy.

(NATO Science Series Sub-Series 2 Mathematics, Physics and Chemistry ; 2)

国立国会図書館請求記号: M17-01-1173
国立国会図書館書誌ID: 000003449768

資料種別: 図書

著者: NATO.

出版者: -

出版年: -

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: v.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.Index term: defects ; SiO2 ; NATO.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0792366859
タイトル: Defects in SiO2 and related dielectrics : science and technology : Advanced study institute : Apr 2000, Erice, Italy.
シリーズタイトル: NATO Science Series Sub-Series 2 Mathematics, Physics and Chemistry ; 2
著者標目: NATO.
数量: v.
並列タイトル等: defects ; SiO2 ; NATO
NDLC: M17
一般注記: Papers.
Index term: defects ; SiO2 ; NATO.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-01-1173
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003449768
http://id.ndl.go.jp/bib/000003449768
整理区分コード: 215