The changing philosophy of test 21st International test conference : Sep 1990, Washington, DC.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.ほか

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Also known as ITC. Held on fiche. IEEE cat no 90CM2910-8.Index term: test ; ITC ; IEEE....

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資料種別: 図書
ISBN: 0818620641 (pbk)
081869064X (hbk)
0818660643 (microfiche)
タイトル: The changing philosophy of test 21st International test conference : Sep 1990, Washington, DC.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.
出版事項: IEEE Computer Society Press
出版年月日等: 1990.
出版年（W3CDTF）: 1990
数量: v.
並列タイトル等: Also known as ITC. Held on fiche. IEEE cat no 90CM2910-8
test ; ITC ; IEEE
資料種別（注記）: [microform]
NDLC: M17
M154
一般注記: Papers.
Also known as ITC. Held on fiche. IEEE cat no 90CM2910-8.
Index term: test ; ITC ; IEEE.
BL shelfmark: 4550.438 1990.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-92-0701-LS
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003488381
http://id.ndl.go.jp/bib/000003488381
UKMARC番号: G01619834
整理区分コード: 215