VLSI test : 9th Symposium : Apr 1991, Atlantic City, NJ.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.ほか

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Conference theme: Chip-to-system test concerns in the 90's. IEEE cat no 91TH0353-3.Index term: IEEE ; VLSI test....

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資料種別: 図書
ISBN: 0780301889 (pbk)
0780301897 (fiche)
タイトル: VLSI test : 9th Symposium : Apr 1991, Atlantic City, NJ.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee.
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.
出版事項: IEEE
出版年月日等: 1991.
出版年（W3CDTF）: 1991
数量: v.
並列タイトル等: Conference theme: Chip-to-system test concerns in the 90's. IEEE cat no 91TH0353-3
IEEE ; VLSI test
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Conference theme: Chip-to-system test concerns in the 90's. IEEE cat no 91TH0353-3.
Index term: IEEE ; VLSI test.
BL shelfmark: q91/22670 Chip-to-system.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-94-0805
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003493808
http://id.ndl.go.jp/bib/000003493808
UKMARC番号: G01762601
整理区分コード: 215