ICMTS 1996 International conference on microelectronic test structures : Mar 1996, Trento, Italy.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Electron Devices Society.

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Held on fiche. IEEE cat no 96CM35832.Index term: microelectronic test structures ; ICMTS ; IEEE....

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資料種別: 図書
ISBN: 0780327845 (casebound)
0780327837 (pbk)
07803278503 (invalid but in book : microfiche)
タイトル: ICMTS 1996 International conference on microelectronic test structures : Mar 1996, Trento, Italy.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Electron Devices Society.
出版事項: IEEE
出版年月日等: 1996.
出版年（W3CDTF）: 1996
数量: v.
並列タイトル等: Held on fiche. IEEE cat no 96CM35832
microelectronic test structures ; ICMTS ; IEEE
資料種別（注記）: [microform]
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Held on fiche. IEEE cat no 96CM35832.
Index term: microelectronic test structures ; ICMTS ; IEEE.
BL shelfmark: 6844.16712 1996.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-97-0943-LS
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003505194
http://id.ndl.go.jp/bib/000003505194
UKMARC番号: G05206735
整理区分コード: 215