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6th Asian test symposium : Nov 1997, Akita, Japan.

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6th Asian test symposium : Nov 1997, Akita, Japan.

国立国会図書館請求記号
M17-98-1863
国立国会図書館書誌ID
000003506799
資料種別
図書
著者
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Computer Society. Test Technology Technical Committee (TTTC)
出版者
IEEE
出版年
1997.
資料形態
ページ数・大きさ等
v.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Selected papers and abstract.Also known as ATS '97. IEEE cat no 97TB100305.Index term: IEEE ; ATS ; test....

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
0818682094 (pbk)
0818682116 (microfiche)
0818682108 (case)
ISSN
1081-7735
出版事項
出版年月日等
1997.
出版年(W3CDTF)
1997
数量
v.
並列タイトル等
Also known as ATS '97. IEEE cat no 97TB100305
IEEE ; ATS ; test