New applications in modelling and inversion techniques for non-destructive testing : Colloquium : Jan 1999, London, UK. (Colloquium Digest - IEE ; 1999-20)

New applications in modelling and inversion techniques for non-destructive testing : Colloquium : Jan 1999, London, UK.

(Colloquium Digest - IEE ; 1999-20)

国立国会図書館請求記号: M17-99-1797
国立国会図書館書誌ID: 000003509340

資料種別: 図書

著者: Institution of Electrical Engineers. Science, Education and Technology Division. Professional Group S6 (Non-Destructive Testing and Evaluation)

出版者: IEE

出版年: 1999.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: v.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Selected papers and programme.Index term: modelling techniques ; IEE ; non destructive testing.BL shelfmark: 3315.470 no 20 1999.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
タイトル: New applications in modelling and inversion techniques for non-destructive testing : Colloquium : Jan 1999, London, UK.
シリーズタイトル: Colloquium Digest - IEE ; 1999-20
著者標目: Institution of Electrical Engineers. Science, Education and Technology Division. Professional Group S6 (Non-Destructive Testing and Evaluation)
出版事項: IEE
出版年月日等: 1999.
出版年（W3CDTF）: 1999
数量: v.
並列タイトル等: modelling techniques ; IEE ; non destructive testing
NDLC: M17
M217
一般注記: Selected papers and programme.
Index term: modelling techniques ; IEE ; non destructive testing.
BL shelfmark: 3315.470 no 20 1999.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-99-1797
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003509340
http://id.ndl.go.jp/bib/000003509340
UKMARC番号: G05805892
整理区分コード: 215