Pattern recognition, chemometrics, and imaging for optical environmental monitoring : Technical conference : Sep 1999, Boston, MA. (SPIE Proceedings ; 3854)

Pattern recognition, chemometrics, and imaging for optical environmental monitoring : Technical conference : Sep 1999, Boston, MA.

(SPIE Proceedings ; 3854)

国立国会図書館請求記号: M17-00-0702
国立国会図書館書誌ID: 000003510519

資料種別: 図書

著者: SPIE-The International Society for Optical Engineering.

出版者: SPIE

出版年: 1999.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: v.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Selected papers.Index term: pattern recognition ; SPIE ; chemometrics ; optical environmental monitoring.BL shelfmark: 6823.100 vol 3854 1999.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0819434477 (pbk)
ISSN: 0277-786X
タイトル: Pattern recognition, chemometrics, and imaging for optical environmental monitoring : Technical conference : Sep 1999, Boston, MA.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 3854
著者標目: SPIE-The International Society for Optical Engineering.
出版事項: SPIE
出版年月日等: 1999.
出版年（W3CDTF）: 1999
数量: v.
並列タイトル等: pattern recognition ; SPIE ; chemometrics ; optical environmental monitoring
NDLC: M17
ME
一般注記: Selected papers.
Index term: pattern recognition ; SPIE ; chemometrics ; optical environmental monitoring.
BL shelfmark: 6823.100 vol 3854 1999.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-00-0702
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003510519
http://id.ndl.go.jp/bib/000003510519
UKMARC番号: G05944586
整理区分コード: 215