Microelectronic test structures 11th International conference : Mar 1998, Kanazawa, Japan.

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Electron Devices Society.

資料に関する注記

一般注記：: Papers.Also known as ICMTS 1998. Held on fiche. IEEE cat no 98CM36157.Index term: microelectronic test structures ; ICMTS ; IEEE....

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資料種別: 図書
ISBN: 0780343492 (casebound)
0780343484 (soft)
0780343506 (microfiche)
タイトル: Microelectronic test structures 11th International conference : Mar 1998, Kanazawa, Japan.
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Electron Devices Society.
出版事項: IEEE
出版年月日等: 1998.
出版年（W3CDTF）: 1998
数量: v.
並列タイトル等: Also known as ICMTS 1998. Held on fiche. IEEE cat no 98CM36157
microelectronic test structures ; ICMTS ; IEEE
資料種別（注記）: [microform]
NDLC: M17
ND
一般注記: Papers.
Also known as ICMTS 1998. Held on fiche. IEEE cat no 98CM36157.
Index term: microelectronic test structures ; ICMTS ; IEEE.
BL shelfmark: 6844.16712 1998.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-99-0238-LS
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003510836
http://id.ndl.go.jp/bib/000003510836
UKMARC番号: G05666391
整理区分コード: 215