Polarization measurement, analysis, and applications 5 : 8-9 July 2002, Seattle, [Washington] USA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0819445878
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Polarization measurement, analysis, and applications 5 : 8-9 July 2002, Seattle, [Washington] USA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 4819
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4819.
• 著者標目: Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers.; Goldstein, Dennis H.; Chenault, David B.; Boeing Company.
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2002.
• 出版年（W3CDTF）: 2002
• 数量: vii, 206 p. : ill. ; 28 cm.
• その他のタイトル: Jul 2002, Seattle, WA.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Polarimetry -- Congresses.; Polarization (Light) -- Measurement -- Congresses.; Optical instruments -- Design and construction -- Congresses.
• LCC: QC440
• DDC: 535.5/2/0287
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-03-205
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000003996063; http://id.ndl.go.jp/bib/000003996063
• LC control number: 2003265066; https://lccn.loc.gov/2003265066
• RLIN番号: DCLC2003265066-B
• 整理区分コード: 215