Proceedings of the 2002 IEEE international workshop on memory technology, design and testing : (MTDT 2002) : 10-12 July 2002, Isle of Bendor, France. : 10th IEEE international workshop on memory technology, design and testing : Jul 2002, Bandol, France.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0769516173; 0769516181 (bookbroker); 076951619X (microfiche)
• ISSN（シリーズ）: 1087-4852
• タイトル: Proceedings of the 2002 IEEE international workshop on memory technology, design and testing : (MTDT 2002) : 10-12 July 2002, Isle of Bendor, France. : 10th IEEE international workshop on memory technology, design and testing : Jul 2002, Bandol, France.
• シリーズタイトル: Memory Technology, Design and Testing
• 著者標目: Courtois, Bernard.; Wik, Thomas.; Zorian, Yervant.; IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (10th : 2002 : Isle of Bendor, France)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2002.
• 出版年（W3CDTF）: 2002
• 数量: xii, 182 p. : ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: MTDT 2002; Records of the 2002 IEEE international workshop on memory technology, design and testing
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Semiconductor storage devices -- Testing -- Congresses.; Random access memory -- Congresses.
• LCC: TK7895.M4
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.; Held at Isle of Bendor.; IEEE cat no PR01617.
• 書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-03-393
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000004013235; http://id.ndl.go.jp/bib/000004013235
• RLIN番号: NYCXV4312446-B
• 整理区分コード: 215