表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用
表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用
- 国立国会図書館請求記号
- MC141-H14
- 国立国会図書館書誌ID
- 000004176179
資料に関する注記
一般注記：
- 訳: 新SIMS研究会原タイトル: Practical surface analysis. (2nd ed.,v.2)
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千葉県立西部図書館
紙- 請求記号：
- 4284/ 54/
- 図書登録番号：
- 1101858729
東京都立中央図書館
紙- 請求記号：
- 428.4-5018-2003
- 図書登録番号：
- 5007705089
神奈川県立川崎図書館
紙- 請求記号：
- 428.4-2-3
- 図書登録番号：
- 81020505
東海・北陸
愛知県図書館
紙- 請求記号：
- 428.4-ﾌﾘ-836428
- 図書登録番号：
- 1108364284
名古屋市図書館
紙- 請求記号：
- 4284/KK/
- 図書登録番号：
- 0210581138
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- 資料種別
- 図書
- ISBN
- 4-900508-10-1
- タイトルよみ
- ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
- 著者・編者
- D.ブリッグス, M.P.シーア 編志水隆一, 二瓶好正 監訳
- 著者標目
- Seah, M. P ( 00474770 )典拠志水, 隆一, 1937- シミズ, リュウイチ, 1937- ( 00189990 )典拠二瓶, 好正, 1940- ニヘイ, ヨシマサ, 1940- ( 00216119 )典拠
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2003.7
- 出版年（W3CDTF）
- 2003
- 数量
- 429p