Nineteenth annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : SEMI-THERM : proceedings 2003 : San Jose, CA USA : March 11-13, 2003. : Mar 2003, San Jose, CA.

著者: IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (19th : 2003 : San Jose, Calif.)

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一般注記：: Papers.Title on cover.IEEE cat no 03CH37437 (softbound) , 03CH37437C (CD-ROM) .

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資料種別: 図書
ISBN: 0780377931 (softbound ed.)
078037794X (CD-ROM ed.)
ISSN: 1065-2221
タイトル: Nineteenth annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : SEMI-THERM : proceedings 2003 : San Jose, CA USA : March 11-13, 2003. : Mar 2003, San Jose, CA.
著者標目: IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (19th : 2003 : San Jose, Calif.)
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: c2003.
出版年（W3CDTF）: 2003
数量: xiii, 404 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: 19th annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : SEMI-THERM : proceedings 2003 : San Jose, CA USA : March 11-13, 2003
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Semiconductors -- Thermal properties -- Congresses.
Semiconductors -- Cooling -- Congresses.
LCC: TK7871.85
NDLC: M17
一般注記: Papers.
Title on cover.
IEEE cat no 03CH37437 (softbound) , 03CH37437C (CD-ROM) .
書誌注記: Includes bibliographical references.
別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-187
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004190537
http://id.ndl.go.jp/bib/000004190537
RLIN番号: FLUGAPC4312-B
整理区分コード: 215