2001 6th international workshop on statistical methodology : IWSM : June 10, 2001/Kyoto : IWSM 2001 : Jun 2001, Kyoto, Japan.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0780366883 (softbound)
• タイトル: 2001 6th international workshop on statistical methodology : IWSM : June 10, 2001/Kyoto : IWSM 2001 : Jun 2001, Kyoto, Japan.
• 著者標目: International Workshop on Statistical Metrology (6th : 2001 : Kyoto, Japan)
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2001.
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 数量: vi, 67 p. : ill. ; 30 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Semiconductors -- Characterization -- Statistical methods -- Congresses.; Semiconductors -- Measurement. -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Program and papers.; IEEE cat no 01TH8550.
• 書誌注記: Includes bibliographic references.
• 別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-03-2557
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000004191636; http://id.ndl.go.jp/bib/000004191636
• LC control number: 00111492; https://lccn.loc.gov/00111492
• RLIN番号: MOHG48009001-B
• 整理区分コード: 215