X-ray micro- and nano-focusing: applications and techniques 2 : 30 July 2001 : San Diego, USA. : Jul 2001, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0819442135
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: X-ray micro- and nano-focusing: applications and techniques 2 : 30 July 2001 : San Diego, USA. : Jul 2001, San Diego, CA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 4499
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 4499.
• 著者標目: McNulty, Ian.
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2001.
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 数量: vii, 144 p. : ill. (some col.) ; 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: X-ray optics -- Congresses.; X-ray microscopy -- Congresses.; Imaging systems -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.; "These proceedings mark the fourth SPIE conference in the field, ..." -- introd.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-03-4713
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000004243947; http://id.ndl.go.jp/bib/000004243947
• RLIN番号: NYCGAUF4215-B
• 整理区分コード: 215