21st IEEE VLSI test symposium : proceedings : 27 April-1 May 2003 : Napa Valley, California. : VTS 2003 : Apr 2003, Napa Valley, CA. (IEEE VLSI Test Symposium)

21st IEEE VLSI test symposium : proceedings : 27 April-1 May 2003 : Napa Valley, California. : VTS 2003 : Apr 2003, Napa Valley, CA.

(IEEE VLSI Test Symposium)

国立国会図書館請求記号: M17-04-1739
国立国会図書館書誌ID: 000004261120

資料種別: 図書

著者: IEEE VLSI Test Symposium (21st : 2003 : Napa Valley, Calif.)

出版者: IEEE Computer Society

出版年: c2003.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xxvii, 432 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Abstracts and papers.IEEE cat no PRO1924.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0769519245
ISSN（シリーズ）: 1093-0167
タイトル: 21st IEEE VLSI test symposium : proceedings : 27 April-1 May 2003 : Napa Valley, California. : VTS 2003 : Apr 2003, Napa Valley, CA.
シリーズタイトル: IEEE VLSI Test Symposium
著者標目: IEEE VLSI Test Symposium (21st : 2003 : Napa Valley, Calif.)
出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
出版年月日等: c2003.
出版年（W3CDTF）: 2003
数量: xxvii, 432 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: VTS03 : 21st IEEE VLSI test symposium
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing. -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Abstracts and papers.
IEEE cat no PRO1924.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-1739
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004261120
http://id.ndl.go.jp/bib/000004261120
RLIN番号: MOHG52272849-B
整理区分コード: 215