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Records of the 2003 international workshop on memory technology, design and testing : 28-29 July 2003 : San Jose California. : MTDT-03, the 11th annual IEEE international workshop on memory technology, design and testing : 11th annual meeting of the MTDT workshop : MTDT 2003 : Jul 2003, San Jose, CA. (Memory Technology, Design and Testing)

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Records of the 2003 international workshop on memory technology, design and testing : 28-29 July 2003 : San Jose California. : MTDT-03, the 11th annual IEEE international workshop on memory technology, design and testing : 11th annual meeting of the MTDT workshop : MTDT 2003 : Jul 2003, San Jose, CA.

(Memory Technology, Design and Testing)

国立国会図書館請求記号
M17-04-1660
国立国会図書館書誌ID
000004261543
資料種別
図書
著者
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (11th : 2003 : San Jose, California)
出版者
IEEE Computer Society
出版年
c2003.
資料形態
ページ数・大きさ等
ix, 95 p. : ill. ; 28 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Papers.IEEE cat no PR02004.

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
0769520049
ISSN(シリーズ)
1087-4852
出版年月日等
c2003.
出版年(W3CDTF)
2003
数量
ix, 95 p. : ill. ; 28 cm.