Recent developments in traceable dimensional measurements 2 : 4-6 August 2003 : San Diego, California, USA. : Aug 2003, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0819450634
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Recent developments in traceable dimensional measurements 2 : 4-6 August 2003 : San Diego, California, USA. : Aug 2003, San Diego, CA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 5190
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering. v. 5190.
• 著者標目: Decker, Jennifer E.; Brown, Nicholas.
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2003.
• 出版年（W3CDTF）: 2003
• 数量: xi, 478 p. : ill. ; 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Optical measurements -- Congresses.; Optical measurements -- Industrial applications -- Congresses.; Optical instruments -- Design and construction -- Congresses.; Measuring instruments -- Design and construction -- Congresses.; Laser interferometers -- Congresses.; Mensuration. -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Selected papers.; "the joint session with conference 5188 Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies, (...) " -- introduction.
• 書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-04-1394
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000004314927; http://id.ndl.go.jp/bib/000004314927
• RLIN番号: MOHG53842150-B
• 整理区分コード: 215