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規格・テクニカルリポート類

Development of a Theoretical Model for Annealing of Radiation Damage in Semiconductor Devices. Quarterly Report, March 8-June 8, 1987. Quarterly Report, 8 Mar. - 8 Jun. 1987 NASA-CR-180394 N87-24211 NAS-126180394 Q-2

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Development of a Theoretical Model for Annealing of Radiation Damage in Semiconductor Devices. Quarterly Report, March 8-June 8, 1987. Quarterly Report, 8 Mar. - 8 Jun. 1987

NASA-CR-180394 N87-24211 NAS-126180394 Q-2

国立国会図書館請求記号
LS-N87/24211
国立国会図書館書誌ID
000004946446
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Litovchenko, V
出版者
-
出版年
-
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche 5 p
NDC
-
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書誌情報

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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Litovchenko, V
数量
microfiche 5 p
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : NASA-CR-180394
テクニカルリポート番号 : N87-24211
テクニカルリポート番号 : NAS-126180394
テクニカルリポート番号 : Q-2
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-N87/24211
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
書誌ID(NDLBibID)
000004946446