Heavy Ion Induced Single Event Phenomena (SEP) Data for Semiconductor Devices from Engineering Testing NASA-CR-184864 N89-20821 NAS-126184864 JPL-PUBL-8817

Heavy Ion Induced Single Event Phenomena (SEP) Data for Semiconductor Devices from Engineering Testing

NASA-CR-184864 N89-20821 NAS-126184864 JPL-PUBL-8817

国立国会図書館請求記号: LS-N89/20821
国立国会図書館書誌ID: 000004949191

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: Nichols, D. Kほか

出版者: -

出版年: -

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: microfiche 71 p

NDC: -

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: Heavy Ion Induced Single Event Phenomena (SEP) Data for Semiconductor Devices from Engineering Testing
著者・編者: Nichols, D. K
Huebner, M. A
Price, W. E
Smith, L. S
Coss, J. R
数量: microfiche 71 p
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : NASA-CR-184864
テクニカルリポート番号 : N89-20821
テクニカルリポート番号 : NAS-126184864
テクニカルリポート番号 : JPL-PUBL-8817
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-N89/20821
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004949191
http://id.ndl.go.jp/bib/000004949191
整理区分コード: 291