Phenomenological model for the effect of nanocrystalline microstructure on irradiation-induced amorphization in U(sub 3)Si ANL/ET/CP-83901 DE95 004631 CONF-94114420

Phenomenological model for the effect of nanocrystalline microstructure on irradiation-induced amorphization in U(sub 3)Si

ANL/ET/CP-83901 DE95 004631 CONF-94114420

国立国会図書館請求記号: LS-DE95/004631
国立国会図書館書誌ID: 000005513373

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: Rest, J

出版者: -

出版年: 1994

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: 7 p. (1 microfiche)

NDC: -

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: Phenomenological model for the effect of nanocrystalline microstructure on irradiation-induced amorphization in U(sub 3)Si
著者・編者: Rest, J
出版年月日等: 1994
出版年（W3CDTF）: 1994
数量: 7 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : ANL/ET/CP-83901
テクニカルリポート番号 : DE95 004631
テクニカルリポート番号 : CONF-94114420
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE95/004631
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005513373
http://id.ndl.go.jp/bib/000005513373
整理区分コード: 291