Radiation-induced segregation: A microchemical gauge to quantify fundamental defect parameters

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Radiation-induced segregation: A microchemical gauge to quantify fundamental defect parameters
• 著者・編者: Simonen, E. P; Bruemmer, S. M
• 出版年月日等: 1994
• 出版年（W3CDTF）: 1994
• 数量: 8 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : PNL-SA-24864; テクニカルリポート番号 : DE95 005720; テクニカルリポート番号 : CONF-94114450
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/005720
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005517177; http://id.ndl.go.jp/bib/000005517177
• 整理区分コード: 291