Integrated X-ray testing of the electro-optical breadboard model for the XMM reflection grating spectrometer

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Integrated X-ray testing of the electro-optical breadboard model for the XMM reflection grating spectrometer
• 著者・編者: Bixler, J. V; Craig, W; Decker, T; Aarts, H; Boggende, T
• 出版年月日等: 1994
• 出版年（W3CDTF）: 1994
• 数量: 12 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : UCRL-JC-118213; テクニカルリポート番号 : DE95 008829; テクニカルリポート番号 : CONF-94072336
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/008829
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005518634; http://id.ndl.go.jp/bib/000005518634
• 整理区分コード: 291