規格・テクニカルリポート類

Uses of electron beam ion traps in the study of highly charged ions UCRL-JC-119193 DE95 011537 CONF-94071662

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Uses of electron beam ion traps in the study of highly charged ions

UCRL-JC-119193 DE95 011537 CONF-94071662

国立国会図書館請求記号
LS-DE95/011537
国立国会図書館書誌ID
000005522257
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Knapp, D
出版者
-
出版年
1994
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
25 p. (1 microfiche)
NDC
-
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書誌情報

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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Knapp, D
出版年月日等
1994
出版年(W3CDTF)
1994
数量
25 p. (1 microfiche)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : UCRL-JC-119193
テクニカルリポート番号 : DE95 011537
テクニカルリポート番号 : CONF-94071662
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE95/011537