Inspection of chemically roughened copper surfaces using optical interferometry and scanning electron microscopy: Establishing a correlation between surface morphology and solderability SAND-95-1752C DE95 016403 CONF-95071602

Inspection of chemically roughened copper surfaces using optical interferometry and scanning electron microscopy: Establishing a correlation between surface morphology and solderability

SAND-95-1752C DE95 016403 CONF-95071602

国立国会図書館請求記号: LS-DE95/016403
国立国会図書館書誌ID: 000005535599

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: Stevenson, J. Oほか

出版者: -

出版年: 1995

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: 8 p. (1 microfiche)

NDC: -

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: Inspection of chemically roughened copper surfaces using optical interferometry and scanning electron microscopy: Establishing a correlation between surface morphology and solderability
著者・編者: Stevenson, J. O
Hosking, F. M
Guilinger, T. R
Yost, F. G
Sorensen, N. R
出版年月日等: 1995
出版年（W3CDTF）: 1995
数量: 8 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-95-1752C
テクニカルリポート番号 : DE95 016403
テクニカルリポート番号 : CONF-95071602
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE95/016403
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005535599
http://id.ndl.go.jp/bib/000005535599
整理区分コード: 291