規格・テクニカルリポート類

Fifth workshop on the role of impurities and defects in silicon device processing. Extended abstracts NREL/SP-413-8250 DE95 009278 CONF-9508143-EXTDABSTS

規格・テクニカルリポート類を表すアイコン

Fifth workshop on the role of impurities and defects in silicon device processing. Extended abstracts

NREL/SP-413-8250 DE95 009278 CONF-9508143-EXTDABSTS

国立国会図書館請求記号
LS-DE95/009278
国立国会図書館書誌ID
000005536169
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Sopori, B. Lほか
出版者
-
出版年
1995
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
160 p. (2 microfiches)
NDC
-
すべて見る

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Sopori, B. L
Luque, A
Sopori, B
Swanson, D
Gee, J
出版年月日等
1995
出版年(W3CDTF)
1995
数量
160 p. (2 microfiches)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : NREL/SP-413-8250
テクニカルリポート番号 : DE95 009278
テクニカルリポート番号 : CONF-9508143-EXTDABSTS
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE95/009278