Novel ellipsometer design for the study of large thin films

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Novel ellipsometer design for the study of large thin films
• 著者・編者: Lin, Y; Premuzic, E; Lin, M
• 出版年月日等: 1995
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 10 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : BNL-61989; テクニカルリポート番号 : DE95 016020; テクニカルリポート番号 : CONF-95079316
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/016020
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005538383; http://id.ndl.go.jp/bib/000005538383
• 整理区分コード: 291