Comparing TOF-SIMS with laser desorption/photoionization for surface analysis

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Comparing TOF-SIMS with laser desorption/photoionization for surface analysis
• 著者・編者: Trevor, J. L; Hanley, L; Pellin, M. J; Lykke, K. R
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 3 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : ANL/CHM/CP-88956; テクニカルリポート番号 : DE96 011907; テクニカルリポート番号 : CONF-96051792
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE96/011907
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005856069; http://id.ndl.go.jp/bib/000005856069
• 整理区分コード: 291