NiO exchange bias layers grown by direct ion beam sputtering of a nickel oxide target

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: NiO exchange bias layers grown by direct ion beam sputtering of a nickel oxide target
• 著者・編者: Michel, R. P; Chaiken, A; Johnson, L. E; Kim, Y. K
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 5 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : UCRL-JC-122960; テクニカルリポート番号 : DE96 010365; テクニカルリポート番号 : CONF-96042510
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE96/010365
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005856291; http://id.ndl.go.jp/bib/000005856291
• 整理区分コード: 291