Accelerated tests for bounding the low dose rate radiation response of lateral PNP bipolar junction transistors SAND-96-0563C DE96 006384 CONF-9607732

Accelerated tests for bounding the low dose rate radiation response of lateral PNP bipolar junction transistors

SAND-96-0563C DE96 006384 CONF-9607732

国立国会図書館請求記号: LS-DE96/006384
国立国会図書館書誌ID: 000005858035

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: Witczak, S. Cほか

出版者: -

出版年: 1996

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: 5 p. (1 microfiche)

NDC: -

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: Accelerated tests for bounding the low dose rate radiation response of lateral PNP bipolar junction transistors
著者・編者: Witczak, S. C
Schrimpf, R. D
Galloway, K. F
Schmidt, D. M
Fleetwood, D. M
出版年月日等: 1996
出版年（W3CDTF）: 1996
数量: 5 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-96-0563C
テクニカルリポート番号 : DE96 006384
テクニカルリポート番号 : CONF-9607732
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE96/006384
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005858035
http://id.ndl.go.jp/bib/000005858035
整理区分コード: 291