Long term instability in the defect assembly in irradiated high resistivity silicon detectors

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Long term instability in the defect assembly in irradiated high resistivity silicon detectors
• 著者・編者: Eremin, V; Ivanov, A; Verbitskaya, E; Li, Z; Schmidt, B
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 3 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : BNL-63117; テクニカルリポート番号 : DE96 011496; テクニカルリポート番号 : CONF-9611233
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE96/011496
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005859678; http://id.ndl.go.jp/bib/000005859678
• 整理区分コード: 291