Transmission electron microscopy study in-situ of radiation-induced defects in copper at elevated temperatures ANL/MSD/CP-90423 DE97 001983 CONF-96120254

Transmission electron microscopy study in-situ of radiation-induced defects in copper at elevated temperatures

ANL/MSD/CP-90423 DE97 001983 CONF-96120254

国立国会図書館請求記号: LS-DE97/001983
国立国会図書館書誌ID: 000005865918

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: Daulton, T. Lほか

出版者: -

出版年: 1996

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: 8 p. (1 microfiche)

NDC: -

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: Transmission electron microscopy study in-situ of radiation-induced defects in copper at elevated temperatures
著者・編者: Daulton, T. L
Kirk, M. A
Rehn, L. E
出版年月日等: 1996
出版年（W3CDTF）: 1996
数量: 8 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : ANL/MSD/CP-90423
テクニカルリポート番号 : DE97 001983
テクニカルリポート番号 : CONF-96120254
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE97/001983
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005865918
http://id.ndl.go.jp/bib/000005865918
整理区分コード: 291