Study of bulk damage in high resistivity silicon detectors irradiated by high dose of (sup 60)Co (gamma)-radiation

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Study of bulk damage in high resistivity silicon detectors irradiated by high dose of (sup 60)Co (gamma)-radiation
• 著者・編者: Li, Z; Li, C. J
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 4 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : BNL-63019; テクニカルリポート番号 : DE96 011030; テクニカルリポート番号 : CONF-9611231
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE96/011030
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005866465; http://id.ndl.go.jp/bib/000005866465
• 整理区分コード: 291