Thermal deposition analysis during disruptions on DIII-D using infrared scanners

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Thermal deposition analysis during disruptions on DIII-D using infrared scanners
• 著者・編者: Lee, R. L; Hyatt, A. W; Kellman, A. G; Taylor, P. L; Lasnier, C. J
• 出版年月日等: 1995
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 7 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : GA-A-22217; テクニカルリポート番号 : DE97 003797; テクニカルリポート番号 : CONF-95090543
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE97/003797
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005872300; http://id.ndl.go.jp/bib/000005872300
• 整理区分コード: 291