Backside localization of open and shorted IC interconnections

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Backside localization of open and shorted IC interconnections
• 著者・編者: Cole, E. I; Tangyunyong, P; Barton, D. L
• 出版年月日等: 1998
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: 8 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND981652C; テクニカルリポート番号 : DE98 003971; テクニカルリポート番号 : CONF980320
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE98/003971
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005885068; http://id.ndl.go.jp/bib/000005885068
• 整理区分コード: 291