Atomic-scale properties of semiconductor heterostructures probed by scanning tunneling microscopy

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Atomic-scale properties of semiconductor heterostructures probed by scanning tunneling microscopy
• 著者・編者: Yu, E. T; Zuo, S. L; Bi, W. G; Tu, C. W; Biefeld, R. M
• 出版年月日等: 1998
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: 11 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND981035C; テクニカルリポート番号 : DE98 005465; テクニカルリポート番号 : CONF980604
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE98/005465
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005897252; http://id.ndl.go.jp/bib/000005897252
• 整理区分コード: 291