Point defects in semiconductors / M. Lannoo, J. Bourgoin.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0387105182 (U.S. : v. 1); 0387115153 (U.S. : v. 2)
• タイトル: Point defects in semiconductors / M. Lannoo, J. Bourgoin.
• シリーズタイトル: Springer series in solid-state sciences ; 22, 35
• 著者標目: Lannoo, M. (Michel) , 1942-; Bourgoin, J. (Jacques) , 1938-
• 出版事項: Berlin : Springer-Verlag; New York : Springer-Verlag
• 出版年月日等: 1981.
• 出版年（W3CDTF）: 1981
• 数量: 2 v. : ill. ; 24 cm.
• 出版地（国名コード）: DE
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Semiconductors -- Defects.; Point defects.
• LCC: QC611.6.D4
• DDC: 537.6/22
• NDLC: MC151
• 一般注記: Vol. 2 by J. Bourgoin, M. Lannoo, with a foreword by G.D. Watkins.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: MC151-53
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006251276; http://id.ndl.go.jp/bib/000006251276
• LC control number: 81005354 //r83; https://lccn.loc.gov/81005354
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: 1. Theoretical aspects2. Experimental aspects.（提供元: 国立国会図書館蔵書）