Digest of papers ... Test Conference.

• 資料種別: 図書
• タイトル: Digest of papers ... Test Conference.
• 著者標目: IEEE Computer Society. Test Technology Committee.; Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.; Test Conference.
• 出版事項: New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers
• 出版年月日等: 1979-1980.
• 出版年（W3CDTF）: 1979
• 数量: 2 v. ; ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: IEEE ... Semiconductor Test Conference 1979; IEEE ... Test Conference 1980
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Computer storage devices -- Congresses.; Semiconductor storage devices -- Congresses.; Semiconductors -- Testing -- Congresses.
• NDLC: ND386
• 一般注記: Each conference also has distinctive title.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND386-21
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006409335; http://id.ndl.go.jp/bib/000006409335
• 整理区分コード: 211