Condensed guide for the Stanford revision of the Binet-Simon intelligence tests, by Lewis M. Terman.

• 資料種別: 図書
• タイトル: Condensed guide for the Stanford revision of the Binet-Simon intelligence tests, by Lewis M. Terman.
• シリーズタイトル: Riverside textbooks in education
• 著者標目: Terman, Lewis Madison, 1877-1956.
• 出版事項: Boston : Houghton Mifflin
• 出版年月日等: [c1920]
• 出版年（W3CDTF）: 1920
• 数量: 32 p. 22 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Intelligence tests.; Stanford-Binet Test.; Binet-Simon Test.
• LCC: LB1131
• 一般注記: "Abbreviated filing record card for the Stanford revision of the Binet-Simon tests": 1 fold. form laid in.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: 227-409
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006476777; http://id.ndl.go.jp/bib/000006476777
• LC control number: 20010063; https://lccn.loc.gov/20010063
• 整理区分コード: 211