A FORTRAN program for analysis of data from microelectronic test structures / Richard L. Mattis (NBS special publication ; 400-75) (Semiconductor measurement technology)

A FORTRAN program for analysis of data from microelectronic test structures / Richard L. Mattis

(NBS special publication ; 400-75) (Semiconductor measurement technology)

国立国会図書館請求記号: YCA-C 13.10:400-75
国立国会図書館書誌ID: 000006510046

資料種別: 図書

著者: Mattis, Richard Lほか

出版者: -

出版年: 1983

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: microfiche ; 11 × 15 cm

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Distributed to depository libraries in microfiche"Issued July 1983."Microfiches in pocket...

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 図書
タイトル: A FORTRAN program for analysis of data from microelectronic test structures / Richard L. Mattis
シリーズタイトル: NBS special publication ; 400-75
Semiconductor measurement technology
著者標目: Mattis, Richard L
United States. National Bureau of Standards
出版年（W3CDTF）: 1983
数量: microfiche
大きさ: 11 × 15 cm
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
資料種別（注記）: [microform]
件名標目: Computer programs -- Testing
一般注記: Distributed to depository libraries in microfiche
"Issued July 1983."
Microfiches in pocket
Physical description for original version: 1 v. (various pagings) : 28 cm. +
書誌注記: Includes bibliographical references
原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards : For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1983
SUPTDOC番号: C 13.10: 400-75
GPO管理番号: 247 (microfiche)
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YCA-C 13.10:400-75
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006510046
http://id.ndl.go.jp/bib/000006510046
GPO番号: 84008029
整理区分コード: 281