Development of a testing methodology to predict optical disk life expectancy values [microform] / Fernando L. Podio

• 資料種別: 図書
• タイトル: Development of a testing methodology to predict optical disk life expectancy values [microform] / Fernando L. Podio
• シリーズタイトル: NIST special publication ; 500-200. Computer systems technology
• タイトル標目: NIST special publication ; 500-200; NIST special publication. Computer systems technology
• 著者標目: Podio, Fernando L; National Institute of Standards and Technology (U.S.)
• 出版年（W3CDTF）: 1991
• 数量: microfiche
• 大きさ: 11 × 15 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 資料種別（注記）: [microform]
• 件名標目: Optical disks -- Testing; Service life (Engineering)
• 一般注記: Distributed to depository libraries in microfiche; Shipping list no.: 92-2116-M; Paper version no longer for sale by the Supt. of Docs; "December 1991."; Physical description for original version: xv, 84 p. : 28 cm
• 書誌注記: Includes bibliographical references (p. 83-84)
• 原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD ; [Springfield, VA : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology : Order from National Technical Information Service], 1991; SUPTDOC番号: C 13.10: 500-200; GPO管理番号: 0247 (MF)
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YCA-C 13.10:500-200
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006585986; http://id.ndl.go.jp/bib/000006585986
• OCLC番号: 26981476; https://www.worldcat.org/oclc/26981476
• 整理区分コード: 281