Simulation of tip-sample interaction in the atomic force microscope [microform] / Brian S. Good and Amitava Banerjea

• 資料種別: 図書
• タイトル: Simulation of tip-sample interaction in the atomic force microscope [microform] / Brian S. Good and Amitava Banerjea
• シリーズタイトル: NASA-TM ; 111699
• タイトル標目: NASA technical memorandum ; 111699
• 著者標目: Good, Brian S; Banerjea, Amitava; United States. National Aeronautics and Space Administration
• 出版年（W3CDTF）: 1994
• 数量: microfiche
• 大きさ: 11 × 15 cm
• 並列タイトル等: Simulation of tip sample interaction in the atomic force microscope
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 資料種別（注記）: [microform]
• 件名標目: Computerized simulation; Atomic force microscopy; Interatomic forces; Crystal surfaces; Microscopes
• 一般注記: Shipping list no.: 98-0791-M; Physical description for original version: 1 v
• 原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: [Washington, D.C. ; Springfield, Va. : National Aeronautics and Space Administration : National Technical Information Service, distributor, 1994]; SUPTDOC番号: NAS 1.15: 111699; GPO管理番号: 0830-D (MF)
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YCA-NAS 1.15:111699
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006614972; http://id.ndl.go.jp/bib/000006614972
• OCLC番号: 39655964; https://www.worldcat.org/oclc/39655964
• 整理区分コード: 281