Testability of product data management interfaces [microform] / David Flater, KC Morris

• 資料種別: 図書
• タイトル: Testability of product data management interfaces [microform] / David Flater, KC Morris
• シリーズタイトル: NISTIR ; 6429
• 著者標目: Flater, David; Morris, K. C; National Institute of Standards and Technology (U.S.)
• 出版年（W3CDTF）: 1999
• 数量: microfiche
• 大きさ: 11 × 15 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 資料種別（注記）: [microform]
• 件名標目: CAD/CAM systems -- Specifications -- United States; CAD/CAM systems -- United States -- Testing; Computer interfaces -- Specifications -- United States; Computer interfaces -- United States -- Testing
• 一般注記: Shipping list no.: 2000-0425-M; "November 1999."; Physical description for original version: 20 p.
• 書誌注記: Includes bibliographical references (p. 18-20)
• 原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, [1999]; SUPTDOC番号: C 13.58: 6429; GPO管理番号: 0247-D (MF)
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YCA-C 13.58:6429
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006631859; http://id.ndl.go.jp/bib/000006631859
• OCLC番号: 43877144; https://www.worldcat.org/oclc/43877144
• 整理区分コード: 281