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シリコン表面における試料通電効果の反射電子顕微鏡法による研究

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シリコン表面における試料通電効果の反射電子顕微鏡法による研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H03452077
国立国会図書館書誌ID
000006981827
資料種別
図書
著者
八木, 克道, 東京工業大学
出版者
-
出版年
1991-1992
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
シリコン ヒョウメン ニ オケル シリョウ ツウデン コウカ ノ ハンシャ デンシ ケンビキョウホウ ニ ヨル ケンキュウ
著者・編者
八木, 克道, 東京工業大学
著者標目
八木, 克道 ヤギ, カツミチ
出版年月日等
1991-1992
出版年(W3CDTF)
1991
数量
その他のタイトル
研究種目 一般研究(B)
件名標目
エレクトロマイグレーシヨン エレクトロマイグレーシヨン
表面電流効果 ヒヨウメンデンリユウコウカ
シリコン表面 シリコンヒヨウメン
Si (111) 相転移 SI (111) ソウテンイ