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評価テストパターンを用いたエピタキシヤルSiライフタイムの三次元分布計測技術

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評価テストパターンを用いたエピタキシヤルSiライフタイムの三次元分布計測技術

国立国会図書館請求記号
Y151-H03650259
国立国会図書館書誌ID
000006983678
資料種別
図書
著者
宇佐美, 晶, 名古屋工業大学
出版者
-
出版年
1991-1993
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ヒョウカ テストパターン オ モチイタ エピタキシヤル Si ライフタイム ノ サンジゲン ブンプ ケイソク ギジュツ
著者・編者
宇佐美, 晶, 名古屋工業大学
著者標目
宇佐美, 晶 ウサミ, アキラ
出版年月日等
1991-1993
出版年(W3CDTF)
1991
数量
その他のタイトル
研究種目 一般研究(C)
件名標目
エピタキシヤルSi層のライフタイム エピタキシヤルSIソウノライフタイム
ライフタイム測定システム ライフタイムソクテイシステム
三次元分布 3ジゲンブンプ
エピ層と基板界面付近のライフタイム エピソウトキバンカイメンフキンノライフタイム
バツフアー層 バツフアーソウ
ライフタイム及び逆方向電流の改善 ライフタイムオヨビギヤクホウコウデンリユウノカイゼン
ホトダイオード ホトダイオード
エピ層中の酸素ドナー エピソウチユウノサンソドナー