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評価テストパターンを用いたエピタキシヤルSiライフタイムの三次元分布計測技術

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評価テストパターンを用いたエピタキシヤルSiライフタイムの三次元分布計測技術

Call No. (NDL)
Y151-H03650259
Bibliographic ID of National Diet Library
000006983678
Material type
図書
Author
宇佐美, 晶, 名古屋工業大学
Publisher
-
Publication date
1991-1993
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
ヒョウカ テストパターン オ モチイタ エピタキシヤル Si ライフタイム ノ サンジゲン ブンプ ケイソク ギジュツ
Author/Editor
宇佐美, 晶, 名古屋工業大学
Author Heading
宇佐美, 晶 ウサミ, アキラ
Publication Date
1991-1993
Publication Date (W3CDTF)
1991
Extent
Additional Title
研究種目 一般研究(C)
Subject Heading
エピタキシヤルSi層のライフタイム エピタキシヤルSIソウノライフタイム
ライフタイム測定システム ライフタイムソクテイシステム
三次元分布 3ジゲンブンプ
エピ層と基板界面付近のライフタイム エピソウトキバンカイメンフキンノライフタイム
バツフアー層 バツフアーソウ
ライフタイム及び逆方向電流の改善 ライフタイムオヨビギヤクホウコウデンリユウノカイゼン
ホトダイオード ホトダイオード
エピ層中の酸素ドナー エピソウチユウノサンソドナー