ナノ積層薄膜の電子密度精密測定法の開発

• 資料種別: 図書
• タイトル: ナノ積層薄膜の電子密度精密測定法の開発
• タイトルよみ: ナノ セキソウ ハクマク ノ デンシ ミツド セイミツ ソクテイホウ ノ カイハツ
• 著者・編者: 橋爪, 弘雄, 東京工業大学
• 著者標目: 橋爪, 弘雄 ハシヅメ, ヒロオ
• 出版年月日等: 1995-1996
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 冊
• その他のタイトル: 研究種目 試験研究(B)
• 件名標目: X線フレネル反射 Xセンフレネルハンシヤ; 薄膜電子密度分布 ハクマクデンシミツドブンプ; 界面ラフネス カイメンラフネス; 相関構造 ソウカンコウゾウ; 表面ステツプ ヒヨウメンステツプ; 界面転写 カイメンテンシヤ; 磁性多層膜 ジセイタソウマク
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 06555092
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H06555092
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006997352; http://id.ndl.go.jp/bib/000006997352
• 整理区分コード: 214