ナノ積層薄膜の電子密度精密測定法の開発

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Material Type: 図書
Title: ナノ積層薄膜の電子密度精密測定法の開発
Title Transcription: ナノセキソウハクマクノデンシミツドセイミツソクテイホウノカイハツ
Author/Editor: 橋爪, 弘雄, 東京工業大学
Author Heading: 橋爪, 弘雄ハシヅメ, ヒロオ
Publication Date: 1995-1996
Publication Date (W3CDTF): 1995
Extent: 冊
Additional Title: 研究種目試験研究(B)
Subject Heading: X線フレネル反射 Xセンフレネルハンシヤ
薄膜電子密度分布ハクマクデンシミツドブンプ
界面ラフネスカイメンラフネス
相関構造ソウカンコウゾウ
表面ステツプヒヨウメンステツプ
界面転写カイメンテンシヤ
磁性多層膜ジセイタソウマク
NDLC: Y151
Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 06555092
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H06555092
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000006997352
http://id.ndl.go.jp/bib/000006997352
Bibliographic Record Category (NDL): 214