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シリコンウエハ加工表面欠陥のナノインプロセス計測に関する研究

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シリコンウエハ加工表面欠陥のナノインプロセス計測に関する研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H07455064
国立国会図書館書誌ID
000007003043
資料種別
図書
著者
三好, 隆志, 大阪大学
出版者
-
出版年
1995-1996
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
シリコンウエハ カコウ ヒョウメン ケッカン ノ ナノインプロセス ケイソク ニ カンスル ケンキュウ
著者・編者
三好, 隆志, 大阪大学
著者標目
三好, 隆志 ミヨシ, タカシ
出版年月日等
1995-1996
出版年(W3CDTF)
1995
数量
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)
件名標目
シリコンウエハ シリコンウエハ
表面欠陥検査 ヒヨウメンケツカンケンサ
光応用計測 ヒカリオウヨウケイソク
微小付着異物 ビシヨウフチヤクイブツ
インプロセス計測 インプロセスケイソク
ナノテクノロジー ナノテクノロジー
光誘起屈折率効果結晶 ヒカリユウキクツセツリツコウカケツシヨウ
BSO結晶 BSOケツシヨウ