サブ0.1ミクロン薄膜SOI CMOS LSIデバイスの揺らぎに関する研究

• 資料種別: 図書
• タイトル: サブ0.1ミクロン薄膜SOI CMOS LSIデバイスの揺らぎに関する研究
• タイトルよみ: サブ 0.1 ミクロン ハクマク SOI CMOS LSI デバイス ノ ユラギ ニ カンスル ケンキュウ
• 著者・編者: 平本, 俊郎, 東京大学
• 著者標目: 平本, 俊郎 ヒラモト, トシロウ
• 出版年月日等: 1995-1997
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 冊
• その他のタイトル: 研究種目 試験研究(B)
• 件名標目: 薄膜SOI MOSFET ハクマクSOIMOSFET; 特性ばらつき トクセイバラツキ; しきい値電圧 シキイチデンアツ; サブ0.1ミクロンMOSFET サブ0.1ミクロンMOSFET; 完全空乏型SOI MOSFET カンゼンクウボウガタSOIMOSFET; 不純物数の統計的揺らぎ フジユンモノカズノトウケイテキユラギ; VLSIデバイス VLSIデバイス
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 07555109
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H07555109
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007004650; http://id.ndl.go.jp/bib/000007004650
• 整理区分コード: 214